果树学报

2003, (01) 76-77

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应用X-射线能谱微区分析法测定核桃种皮与子叶的元素含量
Using X-ray Energy Spectrum for Micro-analysing the Element of Walnut Seed Coat and Cotyledon

周劲松

摘要(Abstract):

应用X-射线能谱微区分析法测定核桃种皮与子叶的元素含量。结果显示:核桃种子不同组织中共发现Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe九种元素。不同组织各元素分布含量有差异。子叶内层组织中S、K、P丰富,而子叶外层组织中K、Ca含量较丰富。各组织中K含量均较高。

关键词(KeyWords): 核桃;X-射线能谱微区分析;元素含量

Abstract:

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基金项目(Foundation):

作者(Author): 周劲松

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